比表面积及孔径分析仪
JW-TB系列
比表面积分析仪
介孔孔径分析仪
微孔孔径分析仪
化学吸附仪
反应评价装置
蒸汽吸附仪
穿透曲线分析仪
真密度仪
压汞仪
高压吸附仪
热分析仪
X射线衍射仪
脱气机
质谱仪
相关配件
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Outline
Master 400 是一款高性能、高集成度四极杆质谱仪,核心用于未知气体定性分析与已知气体定量测量,常作为后端检测器,与化学吸附仪、穿透曲线及传质分析仪、热分析仪、反应/吸附类装置等测试仪器联用,对采集的气体样品开展定性或定量分析。
定性分析 - 可开展全谱扫描,获得质量数-信号强度数据图,结合已有谱图实现未知样品的定性分析。
特定质量数动态监测 - 支持特定质量数扫描,输出时间-特定质量数变化趋势图,直观呈现对应物质随时间的含量变化。
定量分析 - 通过标准气体获得标准测试文件,将特定质量数扫描信号转换为浓度信号,实现对测试物质的定量分析。
用户可根据实验需求进行多浓度点校准,使得宽浓度范围内定量准确性提高。通过使用多质量数表征同一物质,比软电离更精准解决乙烯/乙烷/乙炔、丙烯/丙烷等体系因质量数重叠无法定量的问题。
由电子轰击离子源,四极杆质量分离器以及检测器组成,设有偏压和场轴提高离子聚焦效果;兼具高灵敏度与宽检测范围,可覆盖从 ppm 级痕量组分至常量浓度的检测需求。
同穿透曲线及传质分析仪、化学吸附仪软件联用时,软件可同步触发质谱仪,能直接控制质谱仪开启或停止扫描,测试全流程自动化。
多组分采样,可实现气体的定性和定量分析,具有动态数据交换能力。并具有谱峰自,动校准、灵敏度与放大器自动校准、信号的除噪,信号稳定性等计算,自带谱图库直接匹配物质碎片峰。
Specifications
| 规格 | 参数 |
|---|---|
| 质量数范围 | 1~100 amu、1~200 amu、1~300 amu可选 |
| 检测限 | <0.5 ppm |
| 进样压力 | 0.5~1.5 bar (其他压力可定制) |
| 进样流量 | 1~2 sccm |
| 检测器 | 法拉第杯(标配),C-SEM电子倍增器(选配),可实现从100%到ppb的宽范围检测 |
| 最小检测分压 | 法拉第杯:5×10-13 mbar,C-SEM电子倍增器:4×10-15 mbar |
| 离子源 | 开放式电子轰击离子源 |
| 灯丝 | 铱灯丝(标配,抗污染强,耐氧化,寿命长),钨灯丝(选配) |
| 扫描时间 | 1 ms~16 s/amu 可设置;最小扫描步阶≥0.01 amu |
| 扫描速度 | 1000 amu/s |
| 温度控制 | 毛细管加热控温:25~200°C;腔体加热控温:25~200°C |
| 真空系统 | 系统安装真空硅显示质谱系统压力; 涡轮分子泵:抽气速率:67 L/s,极限压力:5×10-10 hPa; 无油干泵(非防腐蚀型/标配):极限压力:4.5 hPa; 耐腐蚀油泵(防腐蚀型/选配):极限压力:0.5 Pa |
| 响应时间 | ≤200 ms |
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